TeleStar® Probe 是一种独立的离轴部分相干干涉测量范围传感器，用于表面轮廓测量。TeleStar Probe 提供亚微米分辨率，在镜面反射和光散射漫射表面上均具有出色的性能。该探头快速准确，每秒可快速扫描多达 500 个数据点，精度为 1.0 微米，重复性为 0.1 微米。

在 SmartScope ZIP 上，探头可以固定安装或安装在机械部署机构中，以便在不使用时将其收回。

此外，TeleStar Probe 可以配置在 FlexPoint 系统上的 VersaFlex™ 铰接式多传感器阵列中，从而在 CMM 上实现先进的干涉测量技术，这与业内其他任何产品都不一样。

P-25 TeleStar Probe 提供适用于不同应用的可互换物镜和高达 70 mm 的恒定工作距离。